全自動檢測的設備

　　1、系統簡介：

　　全自動檢測IC芯片字符及引腳檢測系統(Automatic IC Vision Inspection System)系統主要用于半導體IC芯片檢測。目前本系統已經具有如下三大功能：

　　1)，2D 字符及表面檢測(Mark&Surface)，主要檢測項目有：漏印字符、無印字、印字傾斜、印字模糊、雙重印、印字錯誤、正印反向等。

　　2)，2D 引腳檢測，主要檢測項目有：管腳的長度、寬度、間距、歪斜度、跨距、引腳受損、引腳彎曲。

　　3)，3D引腳檢測(Standoff&coplanarity)，主要檢測項目有：芯片管腳的共面程度，管腳的長度、寬度、間距、歪斜度、跨距、引腳受損、引腳彎曲等。

　　2、功能特點：

　　1)連續運動拍攝，檢測速度快，適應半導體快速生產的要求。

　　2)高精度圖像處理功能，IC字符及引腳分別取像

　　3)自動重檢功能，有效降低誤報率。

　　4)屏幕顯示不良IC畫面，可選擇放行或標記。

　　5)不良IC圖像存儲功能，便于質量追溯。

　　6)檢測項目可選。

　　7)可量化的、穩定的質量控制標準，保證用戶產品質量的一致性。

　　8)全面的缺陷檢測，避免缺陷產品漏檢出廠。